روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر یونیزاسیون یک ماده با فوتون تکفام پرتو ایکس مورد اندازه گیری قرار می گیرد، طیف فوتوالکترونهای آن ماده، بر مبنای تعداد الکترونهای گسیلی برحسب انرژی ترسیم می شود. انرژی فوتوالکترونهای هر نمونه آزمون، مشخصه ی اتم های تشکیل دهنده ی آن است، بنابراین اندازه گیری انرژی جنبشی این فوتوالکترونها معیاری برای تعیین عناصر موجود در آن نمونه است. شناسایی حالت شیمیایی و الکترونی عناصر ماده مانند تمایز قائل شدن بین اشکال سولفاتی و سولفیدی عنصر گوگرد از انحرافات اندکی در انرژی جنبشی و اندازه گیری میزان غلظت نسبی آن عنصر با توجه به شدت فوتوالکترون های مربوطه امکان پذیر است. از این روش در طیف وسیعی از صنایع چون هوافضا، الکترونیک، ارتباطات و حمل و نقل و غیره می توان بهره برد.

بررسی انواع پوشش های رسانا به منظور تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

امروزه مطالعه درباره خواص مواد بدون آگاهی از اطلاعات مربوط به ریزساختار آنها امکان پذیر نیست. به منظور دستیابی به این مهم، استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشیه بسیار رایج و حائز اهمیت است. با توجه به ضرورت به کارگیری باریکه الکترونی برای تصویربرداری در این میکروسکوپ ها و همچنین با در نظر گرفتن این مسئله که طیف گسترده ای از مواد هدایت الکتریکی مناسبی ندارند، استفاده از این میکروسکوپ باعث بروز مشکلاتی برای رسیدن به نتایج مطلوب میشود. برای این منظور، استفاده از پوشش هادی روی سطح نمونه های نیمه رسانا و نارسانا به عنوان بهترین راهکار ارائه شده است که به طور گسترده ای مورد استفاده قرار می گیرد. در این مقاله ابتدا به انواع پوشش های استفاده شده روی نمونه های مورد بررسی در میکروسکوپ الکترونی روبشی اشاره می شود و در ادامه نیز، به دلایل استفاده از هر یک از آنها و انواع روش های پوشش دهی خواهیم پرداخت.

مشخصه یابی نانو لایه های نقره انباشته شده بر بستر نانولوله های کربنی بوسیله طیف سنجی رامان

در این پژوهش به منظور رشد عمودی نانولوله های کربنی از روش PECVD بر روی لایه ی سیلیکونی و بواسطه ی کاتالیست نیکل استفاده کردیم. لایه نشانی نقره به روش کندوپاش DC در ضخامت های 35، 60، 85 و 100 نانومتر بر بستر نانولوله های کربنی صورت پذیرفت. ساختار به دست آمده را با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) و روش طیف سنجی رامان مورد شناسایی و تغییرات ساختاری و خواص الکتریکی را مورد بررسی قرار دادیم.

تفسیر و آنالیز آزمون TGA

(TGA thermal gravimetric analysis) یک روش تحلیلی حرارتی است که مبنای عملکرد آن تغییر جرم نمونه با تغییر دما، در طول زمان است. این اندازه گیری، اطلاعاتی در مورد پدیده های فیزیکی مانند انتقال فاز، جذب و دفع و همچنین پدیده های شیمیایی مانند جذب شیمیایی، تخریب حرارتی و واکنش های جامد-گاز می دهد. TGA یک ابزار آزمایشگاهی ضروری مورد استفاده برای هویت شناسی مواد است. این مقاله مقدمه ای بر مفاهیم TGA را با پاسخ گویی به سوالات رایج در این زمینه را فراهم می آورد. 

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

 می‌توان گفت مهم‌ترین بخش از آشنایی با XRD، تحلیل داده‌هایی است که در مورد مواد مختلف از طریق این روش به دست می‌آیند. روش‌هایی مانند رابطه‌ی براگ، روش دبای شرر و روش ویلیامسون‌هال از جمله روش‌های تحلیل کمی داده‌های XRD هستند که به کلیات آنها خواهیم پرداخت. اما قبل از تحلیل کمی، تحلیل کیفی داده‌های مربوط به ساختارهای کریستالی مختلف مواد را با هم بررسی می‌کنیم.

تفسیر و آنالیز طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDX, Edax ,EDS)

شناسایی فاز های موجود در ریز ساختار ماده از طریق ترکیب شیمیایی، نقش به سزایی در شناخت و تعیین فاز های مجهول ایفا می کند. طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS) برای تجزیه و تحلیل ساختاری و آنالیز عناصر موجود در نمونه به کار می رود و با نصب آن بر روی میکروسکوپ های الکترونی می توان با مطالعه پرتو هاى بازگشتى از نمونه و تعیین پرتو ایکس مشخصه هر عنصر، با استفاده از قدرت تفکیک و قابلیت بزرگنمایى مختلف، آنالیز کیفى و کمى را بر روی طیف وسیعی از نمونه ها انجام داد. در این مقاله ضمن توضیح نحوه عملکرد و معرفی بخش های مختلف سیستم های EDS ،مزایا و معایب این روش به طور کامل شرح داده شده است.

آنالیز طیف FTIR

طیف فرو سرخ و تاباندن نور بر ساختار مولکولی، به معنای واقعی کلمه یکی از اصلی ترین و مفیدترین ابزار اکتشافات علمی در اطراف ما بوده است از آنجاییکه از ابتدای زمان،نژاد بشر شروع به استفاده از آن کرده است حتی قبل از آنکه ما نامی بر آن بگذاریم. این ابزار شگفت انگیز چیست؟ نور!روشن سازی به ما اجازه می دهد تا ببینیم آنچه که ما داریم انجام می دهیم و مشاهدات بنیادی در مورد بتحقیقات علمی را ممکن می سازد و اندازه گیری طول موج های روشن مختلف می تواند به ما در مورد یک ماده بگوید. در آزمایش پلیمرها، برای بدست آوردن اطلاعات در مورد ماده دلخواه، ما از طیف سنجی (آزمایش اینکه مواد چطور در یک جامد، مایع یا شکل گازی با نورواکنش می دهند) استفاده می کنیم.

روش تحلیل و آنالیز طیف‌سنجی جذبی مرئی - فرابنفش (UV-Vis Spec)

جذب (Absorbance) فرآیندی است که در آن یک ماده به طور گزینشی، انرژی فرکانس های خاصی از تابش الکترومغناطیسی را جذب نموده و در نتیجه پرتو تابشی اولیه را تضعیف می کند. طیف سنجی فرابنفش و مرئی، جذب تابش الکترومغناطیسی توسط ماده در ناحیه فرابنفش / مرئی است. مولکول های آلی، گونه های معدنی و کمپلکس های انتقال بار سه دسته مهم از جاذب ها در طیف سنجی فرابنفش و مرئی هستند. مهمترین انتقالات ترکیبات آلی مربوط به دو انتقال n به *π و π به *π  است. الکترون های مسئول جذب در گونه های معدنی در اوربیتال های d و f قرار دارند و جذب انتقال بار در کمپلکس ها نیز محصول یک نوع فرآیند اکسایش/کاهش درونی است. ممکن است تمام انرژی یک فرکانس از تابش توسط ماده جذب نشود. عبور (transmittance) مقیاسی از کمیّت نور جذب نشده است. جذب نیز یک کمیّت بدون واحد است که با غلظت رابطه مستقیم دارد. قانون بیر-لامبرت (Beer-Lambert) رابطه ی بین جذب و غلظت را بیان می کند. یکی از عواملی که بر طیف های جذبی اثر می گذارد قطبیّت حلال است که بر حسب نوع انتقال می تواند باعث ایجاد انتقال در فرکانس نور قابل جذب (انتقال قرمز به سمت فرکانس های کمتر یا آبی به سمت فرکانس های بیشتر شود.

روش تحلیل طیف سنجی رامان (Raman)

طیف سنجی رامان یک تکنیک طیف سنجی مولکولی است (یعنی با شناسایی مولکول ها سر و کار دارد، نه اتمها) که کاربرد های متنوعی در زمینه های تحقیقاتی مختلف پیدا کرده است. تکنیک رامان بر خلاف سال های ابتدایی ابداعش، امروزه بسیار متداول شده و در علوم پایه و کاربردی استفاده فراوانی پیدا کرده است. در حقیقت تکنیک رامان کاربرد گسترده خود را مدیون پیشرفت های دستگاهی زیادی است که تاکنون در این زمینه پدید آمده و این تکنیک را بیش از پیش ساده تر، قابل دسترس تر و مقرون به صرفه تر کرده است. البته با وجود پیشرفت های به عمل آمده، هنوز در برخی موارد تفسیر یک طیف رامان دشوار بوده و نیازمند مهارت ویژه ای می باشد تا از تفسیر های نادرست اجتناب شود.

آموزش آزمون SEM

در علوم مهندسی، موضوع آنالیز و شناسایی مواد از اهمیت کلیدی برخوردار است. روشهای آنالیز و شناسایی مواد از نظر تحقیق و توسعه و همچنین از نظر کنترل کیفیت، مورد توجه هستند. بهمنظور دستیابی به بهترین نتیجه در آنالیز و شناسایی 4 مواد، به روشها و دستگاههایی نیاز است که یکی از مهمترین این تجهیزات میکروسکوپ الکترونی روبشی است. با توجه به کاربرد روزافزون و مقرون به صرفه بودن میکروسکوپ الکترونی روبشی، باید اشاره کرد که دامنه بزرگنمایی این میکروسکوپها چیزی در حدود 5 تا 1000000 برابر امکانپذیر شده است.