از صفر تا صد آزمون طیف سنجی مادون قرمز - تبدیل فوریه (FTIR)

جذب نور مرئی یا ماوراء بنفش توسط مواد منجر به انتقال سطح انرژی الکترونی شده و یک طیف جذب الکترونی حاصل میشود. بنابراین طیف سنجی و طیف بینی مرئی-فرابنفش یکی از گسترده ترین تکنیکهای مورد استفاده برای آنالیز کیفی و کمی ، با استفاده از بررسی برهمکنش نور و ماده می‌باشد. در طیف سنجی باریکه‌ای از نور (پرتو) به ماده مورد نظر تابانده می‌شود و با بررسی نور بازتابشی یا جذبی یا نشری به دریافت اطلاعات می‌پردازیم. طیف الکترو مغناطیس حاوی گستره ی از طول موجهاست. طول موج گستره ی nm۴۰۰-۸۰۰ گستره مرئی و nm ۲۰۰ – ۴۰۰به گستره فرابفنش نامیده می‌شود. طیف سنجی مرئی –فرابنفش به مطالعه این ناحیه از طیف اشعه الکترومغناطیس می‌پردازد.

دستگاه از قسمتهای مختلف نوری و الکترونیکی تشکیل شده‌است. در این دستگاه منبع تابش که میتواند لامپ تنگستن, برای تولید طول موج های ناحیه مرئی و هیدروژن یا دوتریوم,برای ناحیه ماورا بنفش باشد، طیف پیوسته ای از تابش را فراهم میکند. این طیف تابش توسط منوکروماتور تفکیک میشود و پهنه ی باریکی از طول موج توسط ابزارهای نوری به سل تابانده میشود. سپس نور عبوری توسط آینه متمرکز میشود و سرانجام در آشکارساز اندازه گیری میشود. آنالیز کیفی نمونه و بررسی اثر و تغییرات ماتریس بر روی آن از طریق روبش طول موج و بررسی طول موج ماکزیمم بدست می اید.آنالیزهای کمی برای گستره وسیعی از کاربردها با استفاده از قانون بیر-لامبرت که بیان می کند نمودار جذب علیه غلظت با گرادیان εl خطی است و رسم منحنی کالیبراسیون صورت می گیرد . بدلیل نیاز به تکنیکهای سریع در تشخیص مواد مختلف، این روش در مطالعات ساختاری و بنیادی و همچنین حوزه‌های کاربردی همچون تجزیه مواد در رشته‌های شیمی، مواد، رنگ, کشاورزی، پزشکی و …کاربرد گسترده‌ای دارد.

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر یونیزاسیون یک ماده با فوتون تکفام پرتو ایکس مورد اندازه گیری قرار می گیرد، طیف فوتوالکترونهای آن ماده، بر مبنای تعداد الکترونهای گسیلی برحسب انرژی ترسیم می شود. انرژی فوتوالکترونهای هر نمونه آزمون، مشخصه ی اتم های تشکیل دهنده ی آن است، بنابراین اندازه گیری انرژی جنبشی این فوتوالکترونها معیاری برای تعیین عناصر موجود در آن نمونه است. شناسایی حالت شیمیایی و الکترونی عناصر ماده مانند تمایز قائل شدن بین اشکال سولفاتی و سولفیدی عنصر گوگرد از انحرافات اندکی در انرژی جنبشی و اندازه گیری میزان غلظت نسبی آن عنصر با توجه به شدت فوتوالکترون های مربوطه امکان پذیر است. از این روش در طیف وسیعی از صنایع چون هوافضا، الکترونیک، ارتباطات و حمل و نقل و غیره می توان بهره برد.

مشخصه یابی نانو لایه های نقره انباشته شده بر بستر نانولوله های کربنی بوسیله طیف سنجی رامان

در این پژوهش به منظور رشد عمودی نانولوله های کربنی از روش PECVD بر روی لایه ی سیلیکونی و بواسطه ی کاتالیست نیکل استفاده کردیم. لایه نشانی نقره به روش کندوپاش DC در ضخامت های 35، 60، 85 و 100 نانومتر بر بستر نانولوله های کربنی صورت پذیرفت. ساختار به دست آمده را با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) و روش طیف سنجی رامان مورد شناسایی و تغییرات ساختاری و خواص الکتریکی را مورد بررسی قرار دادیم.

تفسیر و آنالیز طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDX, Edax ,EDS)

شناسایی فاز های موجود در ریز ساختار ماده از طریق ترکیب شیمیایی، نقش به سزایی در شناخت و تعیین فاز های مجهول ایفا می کند. طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS) برای تجزیه و تحلیل ساختاری و آنالیز عناصر موجود در نمونه به کار می رود و با نصب آن بر روی میکروسکوپ های الکترونی می توان با مطالعه پرتو هاى بازگشتى از نمونه و تعیین پرتو ایکس مشخصه هر عنصر، با استفاده از قدرت تفکیک و قابلیت بزرگنمایى مختلف، آنالیز کیفى و کمى را بر روی طیف وسیعی از نمونه ها انجام داد. در این مقاله ضمن توضیح نحوه عملکرد و معرفی بخش های مختلف سیستم های EDS ،مزایا و معایب این روش به طور کامل شرح داده شده است.

آنالیز طیف FTIR

طیف فرو سرخ و تاباندن نور بر ساختار مولکولی، به معنای واقعی کلمه یکی از اصلی ترین و مفیدترین ابزار اکتشافات علمی در اطراف ما بوده است از آنجاییکه از ابتدای زمان،نژاد بشر شروع به استفاده از آن کرده است حتی قبل از آنکه ما نامی بر آن بگذاریم. این ابزار شگفت انگیز چیست؟ نور!روشن سازی به ما اجازه می دهد تا ببینیم آنچه که ما داریم انجام می دهیم و مشاهدات بنیادی در مورد بتحقیقات علمی را ممکن می سازد و اندازه گیری طول موج های روشن مختلف می تواند به ما در مورد یک ماده بگوید. در آزمایش پلیمرها، برای بدست آوردن اطلاعات در مورد ماده دلخواه، ما از طیف سنجی (آزمایش اینکه مواد چطور در یک جامد، مایع یا شکل گازی با نورواکنش می دهند) استفاده می کنیم.

روش تحلیل و آنالیز طیف‌سنجی جذبی مرئی - فرابنفش (UV-Vis Spec)

جذب (Absorbance) فرآیندی است که در آن یک ماده به طور گزینشی، انرژی فرکانس های خاصی از تابش الکترومغناطیسی را جذب نموده و در نتیجه پرتو تابشی اولیه را تضعیف می کند. طیف سنجی فرابنفش و مرئی، جذب تابش الکترومغناطیسی توسط ماده در ناحیه فرابنفش / مرئی است. مولکول های آلی، گونه های معدنی و کمپلکس های انتقال بار سه دسته مهم از جاذب ها در طیف سنجی فرابنفش و مرئی هستند. مهمترین انتقالات ترکیبات آلی مربوط به دو انتقال n به *π و π به *π  است. الکترون های مسئول جذب در گونه های معدنی در اوربیتال های d و f قرار دارند و جذب انتقال بار در کمپلکس ها نیز محصول یک نوع فرآیند اکسایش/کاهش درونی است. ممکن است تمام انرژی یک فرکانس از تابش توسط ماده جذب نشود. عبور (transmittance) مقیاسی از کمیّت نور جذب نشده است. جذب نیز یک کمیّت بدون واحد است که با غلظت رابطه مستقیم دارد. قانون بیر-لامبرت (Beer-Lambert) رابطه ی بین جذب و غلظت را بیان می کند. یکی از عواملی که بر طیف های جذبی اثر می گذارد قطبیّت حلال است که بر حسب نوع انتقال می تواند باعث ایجاد انتقال در فرکانس نور قابل جذب (انتقال قرمز به سمت فرکانس های کمتر یا آبی به سمت فرکانس های بیشتر شود.

روش تحلیل طیف سنجی رامان (Raman)

طیف سنجی رامان یک تکنیک طیف سنجی مولکولی است (یعنی با شناسایی مولکول ها سر و کار دارد، نه اتمها) که کاربرد های متنوعی در زمینه های تحقیقاتی مختلف پیدا کرده است. تکنیک رامان بر خلاف سال های ابتدایی ابداعش، امروزه بسیار متداول شده و در علوم پایه و کاربردی استفاده فراوانی پیدا کرده است. در حقیقت تکنیک رامان کاربرد گسترده خود را مدیون پیشرفت های دستگاهی زیادی است که تاکنون در این زمینه پدید آمده و این تکنیک را بیش از پیش ساده تر، قابل دسترس تر و مقرون به صرفه تر کرده است. البته با وجود پیشرفت های به عمل آمده، هنوز در برخی موارد تفسیر یک طیف رامان دشوار بوده و نیازمند مهارت ویژه ای می باشد تا از تفسیر های نادرست اجتناب شود.